A technique used to analyze the composition of solid surfaces and thin films by sputtering the surface of the specimen with a focused primary ion beam and collecting and analyzing ejected secondary ions.

द्वितीयक आयन मास स्पेक्ट्रोमेट्री एक तकनीक है, जिसका प्रयोग ठोस सतहों और पतली परतों की संरचना का विश्लेषण करने के लिए किया जाता है। इसमें नमूने की सतह को फोकस्ड प्राथमिक आयन बीम से स्पटर किया जाता है और इजेक्टेड द्वितीयक आयनों को इकट्ठा और विश्लेषण किया जाता है।

English Usage: Secondary ion mass spectrometry is used extensively in materials science.

Hindi Usage: द्वितीयक आयन मास स्पेक्ट्रोमेट्री का प्रयोग सामग्री विज्ञान में व्यापक रूप से किया जाता है।